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SN74BCT8374ADWR
+NomenclatureIC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
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FabricantTexas Instruments
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Pièce fabricant #SN74BCT8374ADWR
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Fiche technique SN74BCT8374ADWR DataSheet
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Package 24-SOIC (0.295, 7.50mm Width)
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En stock8104
365 Garantie qualité 24h/24
7*24 Garantie de service 24h/24
90-Garantie après-vente 24h/24
Garantie produit authentique
Spécifications
| Attribut | Valeur |
| Supplier | Texas Instruments |
| Package | Tape & Reel (TR) |
| Series | 74BCT |
| ProductStatus | Obsolete |
| LogicType | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| SupplyVoltage | 4.5V ~ 5.5V |
| NumberofBits | 8 |
| OperatingTemperature | 0°C ~ 70°C |
| MountingType | Surface Mount |
| Package/Case | 24-SOIC (0.295, 7.50mm Width) |
