SN74ABTH18652APM

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SN74ABTH18652APM

+Nomenclature

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

365 Garantie qualité 24h/24

7*24 Garantie de service 24h/24

90-Garantie après-vente 24h/24

Garantie produit authentique

Spécifications

Attribut Valeur
Supplier Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments
Package / Case Bulk,Tray
Series 74ABTH
Part Status Active
Logic Type Scan Test Device With Transceivers And Registers
Voltage - Supply 4.5V ~ 5.5V
Number of Bits 18
Operating Temperature -40°C ~ 85°C
Mounting Type Surface Mount

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