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SN74ABTH18646APM
+NomenclatureIC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
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FabricantTexas Instruments
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Pièce fabricant #SN74ABTH18646APM
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Package 64-LQFP
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En stock9891
365 Garantie qualité 24h/24
7*24 Garantie de service 24h/24
90-Garantie après-vente 24h/24
Garantie produit authentique
Spécifications
| Attribut | Valeur |
| Supplier | Texas Instruments |
| Package | Tray |
| Series | 74ABTH |
| ProductStatus | Active |
| LogicType | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
| SupplyVoltage | 4.5V ~ 5.5V |
| NumberofBits | 18 |
| OperatingTemperature | -40°C ~ 85°C |
| MountingType | Surface Mount |
| Package/Case | 64-LQFP |
