Images à titre indicatif uniquement
SN74ABT18640DL
+NomenclatureIC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
-
FabricantTexas Instruments
-
Pièce fabricant #SN74ABT18640DL
-
Fiche technique SN74ABT18640DL DataSheet
-
Package 56-BSSOP (0.295, 7.50mm Width)
-
En stock8394
365 Garantie qualité 24h/24
7*24 Garantie de service 24h/24
90-Garantie après-vente 24h/24
Garantie produit authentique
Spécifications
| Attribut | Valeur |
| Supplier | Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments |
| Package | Bulk,Tube |
| Series | 74ABT |
| ProductStatus | Active |
| LogicType | Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers |
| SupplyVoltage | 4.5V ~ 5.5V |
| NumberofBits | 18 |
| OperatingTemperature | -40°C ~ 85°C |
| MountingType | Surface Mount |
| Package/Case | 56-BSSOP (0.295, 7.50mm Width) |
