SN74BCT8244ANTG4

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SN74BCT8244ANTG4

+Nomenclature

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

365 Garantie qualité 24h/24

7*24 Garantie de service 24h/24

90-Garantie après-vente 24h/24

Garantie produit authentique

Spécifications

Attribut Valeur
Supplier Texas Instruments
Package / Case Tube
Series 74BCT
Part Status Obsolete
Logic Type Scan Test Device with Buffers
Voltage - Supply 4.5V ~ 5.5V
Number of Bits 8
Operating Temperature 0°C ~ 70°C
Mounting Type Through Hole

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